セミナー情報

SEM観察において試料作製、特に断面出しは観察結果を大きく左右する重要な要素です。適切な断面出しを行うことで、より高精細かつ信頼性の高いSEM像の取得が可能となります。

本発表では昨年度リリースしました最新型クロスセクションポリッシャ™(CP)の特長をご紹介するとともに、新たに対応可能となった冷却ミリング機能、位置合わせ顕微鏡などのオプションをご紹介いたします。
装置導入をご検討中の方はもちろん、既に活用されている方にも有益な内容となっております。

本セミナーは、WEB上で視聴期間限定のオンデマンド形式で開催いたします。視聴期間内であればお客様のご都合に合わせていつでもどこでもご視聴いただけます。皆さまのご参加をお待ちしております。