セミナー情報

走査電子顕微鏡（SEM）は試料表面を観察する装置であり、内部構造の観察には断面作製が重要です。機械研磨やクロスセクションポリッシャTM（CP）、集束イオンビーム加工装置（FIB）などの方法では、高価な装置や専門的な前処理が必要です。本ウェビナーでは、剃刀を用いた簡便な断面作製法をご紹介します。紙や金属めっき線を対象に、刃の使い方と断面構造の関係を検討し、試料特性に応じた工夫で目的に適した観察を可能にしました。

本セミナーは、WEB上で開催されます。WEBに接続できる環境であれば、パソコンからだけでなく、スマートフォンやタブレットからも参加することができます。
なお、本セミナーは1月30日（金）に実施した内容と同一です。当日ご参加いただけなかった方や、復習として受講されたい方はぜひご参加ください。