蛍光X線分析装置 EA1400

日立ハイテクアナリシス / 日立ハイテクアナリシス

ID:K03725

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品質管理に最適な一台

EA1400

新型シリコンドリフト検出器（SDD）を採用
高感度高スループット測定
高エネルギー側の量子効率を向上させた、新しいシリコンドリフト検出器（SDD）を搭載。Cd Kα, Pd Kα, Ba Kαなどのエネルギー帯に対し、高感度で高スループットな測定を実現します。
高分解能・高計数率を実現
高分解能・高計数率を実現したSDDにより、EA1400は従来機よりも主成分に近接する微量元素の検出性能に優れ、金属種の品質管理などに威力を発揮します。
真空システム＋新開発SDD
真空システムと新たなSDDの組み合わせにより軽元素の感度が大幅に向上したため、軽元素を含むスラグやセメントなどの工程管理や品質管理の強化に貢献します。
RoHS対応をはじめ幅広い領域で活躍
RoHS対応：黄銅中のCdスクリーニング分析をさらに高スループット化
黄銅など金属に含まれる微量のCdの測定時間において、当社従来機（EA1000VX）に比べ2倍以上のスループットを実現します。
製錬炉の工程管理：高感度によりスラグの成分測定で迅速・高精度を実現
スラグの主要成分Si、Ca、Al、Mgの組成情報から製錬炉（工程）の状態管理を行います。特に、新型SDDによりMg等の軽元素の定量精度が向上しました。
品質管理：製品に付着・埋没した異物を検出
X線斜方照射方式では測定が難しい凹凸のある母材に付着した異物に対して、EA1400の試料同軸観察・X線垂直照射方式では異物を取り出すことなく、異物由来の元素を検出し物質同定することができます。

仕様

シリーズ	EA1400
本体のサイズ (W)x(D)x(H)mm	本体：520×600×445 試料室寸法：304×304×110
重さ	69kg
電源	AC100～240V　50/60Hz　190VA
測定元素	Na（11）～U（92）
雰囲気	大気仕様（Al～U）真空仕様（Na～U） *オプション
X線照射方式	下面垂直照射型
X線源	小型空冷式X線管球（Rhターゲット）
検出器	新型SDD
分析領域	1、3、5mmφ
一次X線フィルタ	5モード自動切換
サンプルチェンジャ	可能（12検体）　*オプション
希望小売価格（税抜）	お問い合わせ

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